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基于高性能红外显微镜AIM-9000的电子产品异物分析

点击次数:869  发布时间:2016-11-03

红外显微镜是将红外光路引入到显微镜中,光学显微镜观察微小样品,调节可变光阑的大小,选择测试样品中的某一微区,红外光聚焦后,进行红外分析。显微红外法在微量样品的红外光谱测试中发挥着越来越大的作用。异物分析技术通常应用于生产出来的产品有一些斑点状附着物、油状物、粉状物等异常缺陷或表面污染,此时需要分析异物属性,进而寻找污染源或环节,进行排查,以改善配方体系,提高产品质量。在电子电气行业,生产工艺流程复杂,过程中使用的物料众多,操作流水线上的稍微疏漏,都会导致产品中出现不明异物。这不仅影响产品外观,影响产品质量,甚至会导致生产停滞,给企业带来不可估量的经济损失。由于异物样品较小,显红外微法在微小异物分析中的显著优势得以体现。

 

 

岛津红外显微镜 AIM-9000,可视图像 330 倍放大,可以实现zui小视野 30*40 μm 的观测范围,大范围广角相机快速寻找异物点,自动对焦,定位待测点,测量的同时观测测量位置,确保异物点测量位置零偏移。本文使用 AIM-9000 分析了手机镜头组件中的异物。

 

 

岛津公司新发布红外显微镜 AIM-9000

 

了解详情,敬请点击《红外显微镜法在电子产品异物分析中的应用

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