XRF测试仪主要由激发源(X射线管)和探测系统构成。其原理就是：X射线管通过产生入射X射线(一次X射线)，来激发被测样品。 受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光)，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。
然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。 元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长(或能量)分开，分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫XRF测试仪。
由于X荧光具有一定波长，同时又有一定能量，因此，XRF测试仪有两种基本类型：波长色散型XRF测试仪和能量色散型XRF测试仪。
XRF检测仪性能特点：
高效低能X光管，专为轻元素设计
针对磷及有害元素测试而开发的配件
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发系统，提高对P、S等微含量元素激发效果
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置，保证了仪器工作的*性
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
标准配置
低能级高效超薄窗X光管
超薄窗大面积的*SDD探测器
低能光路增强系统
高信噪比电子线路单元
内置高清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
三重安全保护模式
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
整体钢架结构，迷宫式设计，力度可靠的保证
以上就是XRF检测仪的相关介绍，感谢你的观看于支持，希望能帮助您更好的了解他。
